Имя:
Пароль:


a b c d e f g h i j k l m n o p q r s t u v w x y z    0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 
а б в г д е ж з и й к л м н о п р с т у ф х ц ч ш щ ъ ы ь э ю я 

Скачать Основы анализа поверхности и тонких пленок бесплатно

7 апреля 2009 | Автор: Admin | Рубрика: Технические книги » Электроника | Комментариев: 0
Обложка
Монография, написанная известными американскими специалистами в области атомных столкновений в твердых телах, посвящена физическим основам и методам использования пучков ионов, электронов н рентгеновского излучения для анализа структуры н состава тонких пленок вещества. Эти методы играют важную роль в развитии современной атомной технологии, особенно в области микроэлектроники. Все вопросы изложены на высоком научном уровне. Для специалистов, ннтересующнхся проблемами анализа поверхности и тонких пленок, аспирантов и студентов.

http://rapidshare.com/files/5128946/Feldman_L.djvu.html

Информация

Посетители, находящиеся в группе Гости, не могут оставлять комментарии в данной новости.
]